紅外線氣體分析儀的原理是什么?紅外線氣體分析儀原理詳解

紅外線氣體分析儀是一種常用的分析儀器，利用紅外線進(jìn)行氣體分析，具有速度快、精確度高、靈敏性好、操作簡(jiǎn)便等優(yōu)點(diǎn)，被廣泛用于多個(gè)領(lǐng)域中。紅外線氣體分析儀的原理是什么呢?下面小編就來(lái)具體介紹一下吧，希望可以幫助到大家。

紅外線氣體分析儀原理

紅外線氣體分析儀它基于待分析組分的濃度不同，吸收的輻射能不同.剩下的輻射能使得檢測(cè)器里的溫度升高不同，動(dòng)片薄膜兩邊所受的壓力不同，從而產(chǎn)生一個(gè)電容檢測(cè)器的電信號(hào)。這樣，就可間接測(cè)量出待分析組分的濃度。

1.比爾定律

紅外線氣體分析儀是根據(jù)比爾定律制成的。假定被測(cè)氣體為一個(gè)無(wú)限薄的平面.強(qiáng)度為k的紅外線垂直穿透它，則能量衰減的量為：I=I0e-KCL(比爾定律)

式中：I--被介質(zhì)吸收的輻射強(qiáng)度;

I0--紅外線通過(guò)介質(zhì)前的輻射強(qiáng)度;

K--待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù);

C--待分析組分的氣體濃度;

L--氣室長(zhǎng)度(赦測(cè)氣體層的厚度)

對(duì)于一臺(tái)制造好了的紅外線氣體分析儀，其測(cè)量組分已定，即待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù)k一定;紅外光源已定，即紅外線通過(guò)介質(zhì)前的輻射強(qiáng)度I0一定;氣室長(zhǎng)度L一定。從比爾定律可以看出：通過(guò)測(cè)量輻射能量的衰減I，就可確定待分析組分的濃度C了。